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TH2661手持式四探针直流低电阻测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。
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